南台課程大綱
學年度 102學年第二學期 系所 電子系
課程名稱 晶片故障分析技術 班級 四技晶片四甲
授課教師 邱裕中 點 閱 次 數 31
選修
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課程概述
本課程最重要的理想就是教導學生能分析晶片的故障原因,藉此可以讓學生瞭解產業上所面臨真實的良率問題,及如何分析,如何找出問題點,並加以改善。
課程目標
Let student understand the failure analysis of VLSI circuit. How to improve the yield of VLSI circuit. How important the failure analysis in profit margin
課程大綱
1. 晶圓製造流程簡介
2. IC設計公司的成本與良率之關係
3. 物理物理性及電性之故障
4. 測試分析
5. VLSI之故障分析工具簡介
6. 故障分析方法簡介
英文大綱
1. The introduction of wafer manufacturing Fab.
2. The yield and the cost of a design house
3. Physical and electrical failure
4. Testing failure
5. The failure analysis tools of VLSI circuit
6. The methodology of failure analysis
下載
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