南台課程大綱
學年度 98學年第二學期 系所 電子系
課程名稱 VLSI測試理論 班級 碩研電子一甲
授課教師 蔣富成 點 閱 次 數 126
選修
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課程概述
介紹數位IC錯誤產生的原因、將其表現的方式模式化,進而瞭解如何產生測試樣本將錯誤測試出來。
課程目標
了解各種數位IC錯誤的模式並了解如何產生測試樣本。
課程大綱
1.測試簡介
2.錯誤模式化
3.錯誤縮減
4.錯誤模擬
5.組合電路測試樣本產生
6.序向電路測試樣本產生
7.設計植入測試考量
8.邊界掃瞄
9.內建式自我測試
10.記憶體測試
英文大綱
1.Introduction
2.Fault modeling
3.Fault collapsing
4.Fault simulation
5.Combinational test generation
6.Sequential test generation
7.Design for Testability (DFT)
8.Boundary scan
9.Built-in-self-test (BIST)
10.Memory testing
下載
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